PMKによるダイナミック電力とリーク電力の削減は、ARMフィジカルIPのテスト シリコンおよびARMプロセッサの設計に基づくシリコンで実証されています。
ダイナミック電力は、チップ全体またはブロックの動作電圧を下げることで削減できます。それには、オンチップの各電圧アイランドで、レベル シフタを使用する必要があります。
リーク電力は、チップのブロックの電源を遮断することで飛躍的に削減できます。これは、オンチップのパワー ゲートで電源(VDD)とグランド(VSS)をスイッチングすることで実現できます。
- チップの一部の電源を遮断する場合、順序回路のデータの状態維持が必要になることがあります。 これは、リテンション フリップフロップ、リテンション スキャン フリップフロップ、およびリテンション ラッチを使用することで実現できます。







