Summary
・eSTIL has capabilities to check the functions of LSI or Modules and to inspect the LSI or Modules by using the result (VCD format test pattern) from Logic-SIM, and also to tune the timings of the test pattern. Then the tuned test pattern can be use various LSI Testers as test pattern for production.
・Subject: LSI or Modules on chip ARM Core or hardware IPs, TEG (Test Element Group) or Emulation chip for ARM software Development Tool, ICE and Evaluation Board.
概要
・論理SIMの結果(テストパタン:VCD)をSTILフォーマットに変換してLSI製品の動作確認/検査及びパタンのタイミング最適化が可能です。そのパタンは各社LSIテスタ用に変換して量産用パタンとして使用することが可能です。
・対象デバイス:ARMコアを搭載した各種LSI製品やARMソフトウエア開発ボード・ICEや評価ボードに搭載されるARMコアやハードウエアIPから成る各種エミュレータチップなど
Strong Points
・Possible to check the functions of LSI or Modules by eSTIL on your desk.
・Possible to tune the timings of the test pattern by not using LSI Tester.
・Possible to inspect LSI or Modules, so you can get the engineering samples for shipping easily.
・Possible to revital the idle or old LSI Testers by adding eSTIL-BOST (Built Out of Self Test).
・Possible to operate claimed samples from user for fail analysis instead of LSI Tester.
特長
・机上でLSI製品を用いて論理SIMの結果との照合・解析が可能です。
・LSIテスタではなくeSTIL上でパタンの入力・ストローブタイミング最適化が可能です。
安価なeSTILにてタイミング最適化したパタンを各社LSIテスタに移植できます。
・eSTILによりLSI製品を検査(Pass/Fail区別)することができます。
安価なeSTILにてES出荷のための検査などが可能です。
・遊休・古いLSIテスタのデジタルテスト能力を大幅に増強できます。
eSTILをBOSTとして遊休LSIテスタに付加し、安価に遊休LSIテスタをRevitalできます。
・クレーム品の物理解析用の駆動装置(LSIテスタの代替)として使用可能です。
eSTIL:STIL (Standard Test Interface Language) based Digital Function Test System